美国国家仪器公司(National Instruments, 简称NI)于2015年8月4日-6日在美国得克萨斯州首府奥斯汀举办了一年一度的NIWeek全球盛会。3200多名业界代表参加了此次盛会，见证了NI通过平台化架构帮助客户将Big Analog Data进一步分析、控制，打造智能化系统，实现物联网实施落地的最新理念。NI始终致力于为工程师和科学家提供解决方案来应对全球最严峻的工程挑战。NIWeek自举办20多年来，已经成为图形化系统设计领域的全球盛会，也成为了测试、测量与控制相关行业最为重要的前瞻性会议。此次NIWeek定位于工业物联网，介绍了物联网发展的关键技术及挑战，发布了NI针对物联网应用的最新解决方案和软硬件产品，同时展示了令人耳目一新的具体应用案例，覆盖智能测量（Smart Measurement）、智能测试系统（Smart Test System）、智能电网（Smart Grid）、智能机器（Smart Machines）与智能发电（Smart Power Generation）五大核心领域。NI针对工业物联网(IIoT)推出新一代控制系统，基于开放、灵活的LabVIEW可重配置I/O (RIO)架构的全新嵌入式系统硬件 该硬件包含了以下三个控制器：高性能CompactRIO控制器，适用于需要系统坚固可靠、环境严苛的工业应用领域的工程师和系统集成商；FlexRIO控制器，适用于有便携需求的高性能嵌入式应用设计工程师；以及Single-Board RIO控制器，适用于需要提高嵌入式应用灵活性的设计工程师。这些控制器集成了来自Intel和Xilinx的最新嵌入式技术，旨在帮助系统设计工程师和机器开发人员应对最严峻的控制和监测挑战。控制器基于SELinux ，完全受到LabVIEW软件、LabVIEW FPGA模块和NI Linux Real-Time的支持，为工业物联网应用提供了高级的安全功能。